مدل برآورد غلظت نقص نقطه‌ای بلورهای سیلیکون در روند Czochralski با شبکه های عصبی تقویت شده

ترجمه مقاله 6 صفحه ای چاپ شده در سال 2010 تحت عنوان Neural network reinforced point defect concentration estimation model for Czochralski-grown silicon crystals ...